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二手鎢燈絲電鏡 二手場發(fā)射電鏡掃描型電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM）是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過探測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號，來獲取樣品表面微觀形貌、成分及結構信息的高分辨率分析儀器。

二手 Hitachi SU8220 冷場發(fā)射電鏡 系列中端冷場發(fā)射電鏡，同系列還有 SU8230、SU8240，后續(xù)迭代型號為 Regulus8220；核心革新是改良型冷場電子槍，解決傳統(tǒng)冷場束流弱、不穩(wěn)定、頻繁閃光的痛點，兼顧超高分辨成像 + 長時間 EDS 元素分析，是納米、半導體、軟材料領域主流機型.

二手 SEM 賽默飛 Quattro S 掃描電子顯微鏡掃描電鏡結合了高分辨率成像、多種探測器選項和獨特的環(huán)境模式（ESEM），可在自然狀態(tài)下對多樣化的樣品進行研究。其場發(fā)射槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，同時通過不同探測器選項提供多種襯度信息。Quattro具備高真空、低真空和ESEM三種模式，適用于廣泛的樣品類型，包括不導電和潮濕樣品。

二手 日立 SU-8220 冷場發(fā)射電鏡冷場發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發(fā)射電子槍，使電子束束流更大、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線能譜儀，可對樣品進行高分辨元素分析。應用于生物、化學等納米尺度材料的結構和成分分析。

二手JEOL 場發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點有：應用了浸沒式肖特基電子槍技術的電學系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。

二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡肖特基場發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學系統(tǒng)），操作非常方便。基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析，可以滿足每個用戶的個性化需求。