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二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡：采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便。

基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析（LDF系統(tǒng)）等，可以滿足每個用戶的個性化需求。

由于在樣品附近沒有磁場泄漏，對磁性材料樣品的高分辨率觀察和EBSD測試非常有效，是一款對所有材料的形貌觀察及各種分析能發(fā)揮威力的多功能掃描電鏡。安裝選配件TTL能獲得更多的樣品信息。此外，配合使用Gentle Beam （GB模式即柔和光束），以數(shù)百電子伏的極低能量可以觀察樣品的淺表面。

二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡：核心技術(shù)參數(shù)

• 電子槍：浸沒式（In-lens）肖特基熱場發(fā)射（T-FE）

• 加速電壓：0.2kV ~ 30kV 連續(xù)可調(diào)

• 分辨率

• 二次電子像：1.2nm (30kV)；3.0nm (1kV)

• 分析狀態(tài)（高束流）：3.0nm (15kV, 5nA, WD=10mm)

• 放大倍數(shù)：×10 ~ ×1,000,000

• 探針束流：1pA ~ 200nA 連續(xù)可調(diào)

• 物鏡類型：Out-lens（外透鏡）式超級圓錐物鏡

• 樣品臺：5 軸馬達(dá)驅(qū)動優(yōu)中心臺

• 移動范圍：X (70mm), Y (50mm), Z (3~41mm)

• 傾斜：-5° ~ +90°，360° 旋轉(zhuǎn)

• 真空系統(tǒng)：分子泵（TMP）+ 離子泵（SIP）+ 機(jī)械泵

• 觀測模式：

• 標(biāo)準(zhǔn)：二次電子（SE）、背散射電子（BSE）

• 選配：低真空（LV）、Gentle Beam（低能 GB 模式，數(shù)百 eV）

• 分析：EDS/WDS 能譜、EBSD、CL（陰極熒光）

二、主要特點與優(yōu)勢

1. 高分辨與高束流兼顧

   獨特的電子光學(xué)系統(tǒng)（High Power Optics），在大束流（>nA 級）下仍能保持高分辨率，特別適合EDS/WDS/EBSD等需要強束流的分析工作。

2. 無磁干擾設(shè)計

   樣品區(qū)磁場泄漏極小，非常適合磁性材料的高分辨觀察與 EBSD 測試。

3. 多功能擴(kuò)展性強

• TTLS 系統(tǒng)：同時采集多種信號（SE/BSE/ 元素分布）。

• LDF 大視場系統(tǒng)：低倍下實現(xiàn)超大視野觀察。

• 低真空 & GB 模式：可直接觀測不導(dǎo)電樣品、易荷電或易損傷樣品（如高分子、生物樣）。

4. 操作友好

   智能化操作界面，可按觀察 / 分析 / 對比等用途一鍵切換模式，新手易上手。

三、典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 材料科學(xué)：金屬、陶瓷、高分子、復(fù)合材料的微觀形貌與失效分析

• 納米科技：納米線、量子點、二維材料（石墨烯）的表征

• 地質(zhì) / 礦物：礦物包裹體、微區(qū)成分與晶向分析

• 半導(dǎo)體：芯片、光刻膠、MEMS 器件的缺陷檢測

• 生命科學(xué)：生物組織、細(xì)胞、軟物質(zhì)的低損傷觀測