產(chǎn)品分類
二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.
更新時(shí)間:2025-03-13
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二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品, 通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
更新時(shí)間:2025-03-07
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二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡,其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用,使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出,形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源,具有更高的亮度和更小的電子束直徑,從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。
更新時(shí)間:2025-03-07
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二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng),高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭;用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。
更新時(shí)間:2025-03-05
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二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實(shí)現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”*1、以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器”*1它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-02-28
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二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料,并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征,是目前對(duì)掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用,足以應(yīng)對(duì)當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品,得到所有數(shù)據(jù)”, 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像,并可輔以多種附件來(lái)確定材 料的性質(zhì)和元素組成。
更新時(shí)間:2025-02-28
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