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二手鎢燈絲電鏡 二手場(chǎng)發(fā)射電鏡掃描型電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡(jiǎn)稱SEM）是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過(guò)探測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)，來(lái)獲取樣品表面微觀形貌、成分及結(jié)構(gòu)信息的高分辨率分析儀器。
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二手 Hitachi SU8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡 系列中端冷場(chǎng)發(fā)射電鏡，同系列還有 SU8230、SU8240，后續(xù)迭代型號(hào)為 Regulus8220；核心革新是改良型冷場(chǎng)電子槍，解決傳統(tǒng)冷場(chǎng)束流弱、不穩(wěn)定、頻繁閃光的痛點(diǎn)，兼顧超高分辨成像 + 長(zhǎng)時(shí)間 EDS 元素分析，是納米、半導(dǎo)體、軟材料領(lǐng)域主流機(jī)型.
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S-3400N 日立 二手 掃描電鏡型掃描電子顯微鏡采用TMP分子泵真空系統(tǒng)，節(jié)省占地面積和電源功耗。主要用于對(duì)材料的微觀形貌、組織和成分進(jìn)行有效分析。
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二手 SEM 賽默飛 Quattro S 掃描電子顯微鏡掃描電鏡結(jié)合了高分辨率成像、多種探測(cè)器選項(xiàng)和獨(dú)特的環(huán)境模式（ESEM），可在自然狀態(tài)下對(duì)多樣化的樣品進(jìn)行研究。其場(chǎng)發(fā)射槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，同時(shí)通過(guò)不同探測(cè)器選項(xiàng)提供多種襯度信息。Quattro具備高真空、低真空和ESEM三種模式，適用于廣泛的樣品類(lèi)型，包括不導(dǎo)電和潮濕樣品。
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二手 日立 SU-8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡冷場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場(chǎng)發(fā)射電子槍，使電子束束流更大、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達(dá)1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線能譜儀，可對(duì)樣品進(jìn)行高分辨元素分析。應(yīng)用于生物、化學(xué)等納米尺度材料的結(jié)構(gòu)和成分分析。
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二手JEOL 場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點(diǎn)有：應(yīng)用了浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測(cè)器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號(hào)的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。
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二手 JEOL JSM-7100F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用通用性強(qiáng)的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便?；谟脩粲押玫腟EM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號(hào)的同時(shí)觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場(chǎng)觀察和分析，可以滿足每個(gè)用戶的個(gè)性化需求。
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二手JEOL JSM-7200F 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-JSM-7800F Prime采用的浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無(wú)論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。
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二手日本電子 JSM-7900F 場(chǎng)發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí)，操作性能簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開(kāi)發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動(dòng)化功能，結(jié)合了自動(dòng)軸功能，包括自動(dòng)橫梁設(shè)置、自動(dòng)同軸軸。還具有3kV時(shí)低加速電壓保證10nm分辨率、實(shí)時(shí)顯示兩幅圖像、實(shí)時(shí)全屏圖像等特點(diǎn)。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。
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