產(chǎn)品名稱：二手 賽默飛 XPS X射線光電子能譜儀
產(chǎn)品型號：
更新時間：2026-05-20
產(chǎn)品特點：二手 賽默飛 XPS X射線光電子能譜儀能譜儀適合于在表面分析實驗室內(nèi)大批量、快速測量。多功能ESCALAB 250Xi集中了所有XPS技術(shù)和特點。Theta Probe能譜儀為優(yōu)質(zhì)的角分辨XPS，專用于超薄膜。在每一種儀器在表面分析測量中均能保證譜峰的質(zhì)量。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手 賽默飛 XPS X射線光電子能譜儀K-Alpha 重要特征和優(yōu)勢
Al Kα X射線 單色器可用于化學(xué)態(tài)高分辨分析
微聚焦X射線探針可用于絕緣材料的分析
先進(jìn)的光學(xué)觀察系統(tǒng)可用于對中樣品上微小結(jié)構(gòu)和污染點分析位置
聚焦深度剖析離子源可用于單層和多層膜分析
一鍵式中和系統(tǒng)可用于精確的小面積分析
128通道探測器用于快速并行快照式采集數(shù)據(jù)
高性能電子能譜分析中的X射線單色器
用戶用K-Alpha X射線單色器可選擇30 µm至400 µm大小的分析區(qū)域，步長 5 µm。將分析區(qū)域調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，使得信號。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測器使得儀器具有高靈敏探測能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。
二手 賽默飛 XPS X射線光電子能譜儀絕緣樣品分析
K-Alpha能譜儀的荷電補償使得儀器分析絕緣樣品就像分析非絕緣樣品一樣容易。賽默飛科技的雙束中和源采用離子和極地能量的電子，可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無需荷電校準(zhǔn)。
化學(xué)態(tài)圖像
K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個樣品臺大小的大樣品圖像。獨特的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將XPS像與儲存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一功能可用于識別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。
深度剖析
K-Alpha用標(biāo)準(zhǔn)離子源或MAGCIS（可選雙模單原子和氣體團簇離子源）深入表面層以下進(jìn)行分析。自動優(yōu)化源和自動供氣確保優(yōu)良的性能和實驗重復(fù)性
精準(zhǔn)的結(jié)果－快速和高效
K-Alpha具有性能和先進(jìn)的功能 ，可滿足科研和常規(guī)測量對XPS需求。直觀的操作（由Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)導(dǎo)航）使得K-Alpha適合于 多用戶、設(shè)備共享用戶和著重高效操作和大量分析的XPS專家。
三個攝像頭方便了樣品導(dǎo)航和精確定位。獨特設(shè)計的光學(xué)成像系統(tǒng)操作預(yù)存有用戶的使用經(jīng)驗，減少了學(xué)習(xí)的彎路，大大提高了測試效率。
k-Alpha的分析室內(nèi)安裝標(biāo)準(zhǔn)樣品，用于必要的校準(zhǔn)。只需按下一鍵，K-Alpha可在數(shù)分鐘內(nèi)完成自校準(zhǔn)。確保用戶數(shù)據(jù)非?？尚?。
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